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Angenommenes Grenzrisiko für:
A*B = 5*5= 25
A*B*C = 5*5*5= 125
Bewertung der Faktoren A-B-C | ||||||||
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Mögliche Versagens- wahrscheinlichkeit | Mögliche Auswirkung auf das Produkt | Bewertung Faktor A ... Versagensrisiko | Möglicher Auswirkung auf die fünf Interessenspartner | Bewertung Faktor B ... Kundenrisiko | RPZ(2)=A*B > 25 | Bewertung Faktor C ...Durchschlupfrisiko | RPZ(3)=A*B*C* > 125 | |
PL Produkt- Lagerung | Geringe Wahrscheinlichkeit für das Versagen des QM-Elements "PL" | Keine wahrnehmbare Auswirkung auf das Produkt Fehler ist unbedeutend | 1 | Keine wahrnehmbare Auswirkung | 1 | 1 | ||
Mittlere Wahrscheinlichkeit für das Versagen des QM-Elements "PL" | mittelschwere Auswirkung auf das Produkt; mittelschwerer Fehler | 5-6 | massive Verärgerung des Kunden | 6 | 36 | |||
Mittlere Wahrscheinlichkeit für das Versagen des QM-Elements "PL" | katastrophale Auswirkung auf das Produkt; katastrophaler Fehler | 8 | massive Verärgerung des Kunden | 9 | 64 |
Die Lagerung für Bausteine oder Wafer muss allfällige Beeinträchtigungen durch die Lagerkonditionen und/oder die Lagerdauer berücksichtigen. Negative Auswirkungen können beispw. eine zu hohe Lagertemperatur sein oder Umwelteinflüsse z.B. Schmutz in der Luft (Staubpartikel in der Luft schädlich für Wafer, gelöste Gase z. B. aus der Verpackung können die Lötbarkeit der Anschlussbeinchen beeinflussen). Dies sollte bei Verwendung der Waferboxen für Wafer und bei geeigneten Lagerbedingungen weitgehend vermieden werden. Auch eine zeitliche Überwachung maximaler Lagerzeiten soll Lötprobleme vermeiden.